型号：日立S-4800

生产厂家：日本日立公司

性能指标：二次电子分辨率:1.0nm(15 kV)；2.0 nm(1 kV)；背散射电子分辨率:3.0 nm(15 kV)；电子枪:冷场发射电子源；加速电压:0.5～30 kV；放大倍率:×30～×600,000。 

主要附件配置：能谱仪（型号HORIABA EX-250）, 元素分析范围为Be4~U92。

主要应用：用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织。主要：（1）金属、陶瓷、混凝土、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；（2）材料的相分布和金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；（3）纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察；（4）利用S-4800和X射线能谱仪可以在观察样品表面微观形貌的同时进行微区成分定性和定量以及元素分布分析。

送样要求：由于S-4800不能在低真空条件下工作，因此不适合直接观察含水和含油样品；不能检测强磁性样品